6月30日，澳门十大正规老牌网赌承办金科学术大讲堂第16期讲座，邀请中国科学院计算技术所研究员、学位评定委员会副主席、计算机体系结构国家重点实验室常务副主任李晓维研究员作题为《集成电路全生命周期测试技术》的讲座，澳门十大正规老牌网赌院长陈正宇主持讲座，学院全体教师和部分学生参加了线上讲座。

李晓维研究员从中外星载芯片故障引发的事故引入，详细解读了集成电路全生命周期测试对我国航天和国防安全等领域的重要意义，并从硅前（pre-silicon）、硅后（post-silicon）和服役期三个阶段分别介绍了集成电路芯片的故障检测和优化方法。在硅前设计阶段，其研究团队提出的覆盖评估方法使故障检测所需周期数减小了两个数量级；硅后阶段，结构测试及算法优化极大的缓解了存储器等芯片故障的检测和优化方面的困难；针对集成电路服役期间，介绍了自检测、自修复以及多核冗余等方法对集成电路进行健康管理。

陈正宇表示李晓维研究员的报告从过去到未来、从实践到理论、点面结合、由浅入深地讲述了集成电路全生命周期测试技术基本原理、典型进展和发展趋势。讲座不仅给本科生拓展了专业视野，更给青年教师指明了有发展潜力的研究方向。